Skip to main navigation Skip to search Skip to main content

A new approach for CMS RPC current monitoring using Machine Learning techniques

  • A. Samalan
  • , M. Tytgat
  • , N. Zaganidis
  • , G. A. Alves
  • , F. Marujo
  • , F. Torres Da Silva De Araujo
  • , E. M. da Costa
  • , D. de Jesus Damiao
  • , H. Nogima
  • , A. Santoro
  • , S. Fonseca De Souza
  • , A. Aleksandrov
  • , R. Hadjiiska
  • , P. Iaydjiev
  • , M. Rodozov
  • , M. Shopova
  • , G. Sultanov
  • , M. Bonchev
  • , A. Dimitrov
  • , L. Litov
    • B. Pavlov, P. Petkov*, A. Petrov, S. J. Qian, C. Bernal, A. Cabrera, J. Fraga, A. Sarkar, S. Elsayed, Y. Assran, M. El Sawy, M. A. Mahmoud, Y. Mohammed, C. Combaret, M. Gouzevitch, G. Grenier, I. Laktineh, L. Mirabito, K. Shchablo, I. Bagaturia, D. Lomidze, I. Lomidze, V. Bhatnagar, R. Gupta, P. Kumari, J. Singh, V. Amoozegar, B. Boghrati, M. Ebraimi, R. Ghasemi, M. Mohammadi Najafabadi, E. Zareian, M. Abbrescia, R. Aly, W. Elmetenawee, N. Filippis, A. Gelmi, G. Iaselli, S. Leszki, F. Loddo, I. Margjeka, G. Pugliese, D. Ramos, L. Benussi, S. Bianco, D. Piccolo, S. Buontempo, A. Di Crescenzo, F. Fienga, G. de Lellis, L. Lista, S. Meola, P. Paolucci, A. Braghieri, P. Salvini, P. Montagna, C. Riccardi, P. Vitulo, B. Francois, T. J. Kim, J. Park, S. Y. Choi, B. Hong, K. S. Lee, J. Goh, H. Lee, J. Eysermans, C. Uribe Estrada, I. Pedraza, H. Castilla-Valdez, A. Sanchez-Hernandez, C. A. Mondragon Herrera, D. A. Perez Navarro, G. A. Ayala Sanchez, S. Carrillo, E. Vazquez, A. Radi, A. Ahmad, I. Asghar, H. Hoorani, S. Muhammad, M. A. Shah, I. Crotty
*Corresponding author for this work

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

1   Link opens in a new tab Citation (Scopus)

Fingerprint

Dive into the research topics of 'A new approach for CMS RPC current monitoring using Machine Learning techniques'. Together they form a unique fingerprint.
Sort by

Keyphrases

Engineering

Physics

Chemical Engineering