apparatus and metho of measuring the surfact atate for analyzing colour and the shape in three dimension

Chil Hwan Oh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

입체적 형태 및 색체 분석을 위한 표면상태 측정 장치 및 그 방법

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title = "apparatus and metho of measuring the surfact atate for analyzing colour and the shape in three dimension",

abstract = "입체적 형태 및 색체 분석을 위한 표면상태 측정 장치 및 그 방법",

author = "Oh, {Chil Hwan}",

year = "2001",

month = jan,

day = "13",

language = "English",

type = "Patent",

note = "10-0286434",

}

TY - PAT

T1 - apparatus and metho of measuring the surfact atate for analyzing colour and the shape in three dimension

AU - Oh, Chil Hwan

PY - 2001/1/13

Y1 - 2001/1/13

N2 - 입체적 형태 및 색체 분석을 위한 표면상태 측정 장치 및 그 방법

AB - 입체적 형태 및 색체 분석을 위한 표면상태 측정 장치 및 그 방법

M3 - Patent

M1 - 10-0286434

ER -