Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof

Chil Hwan Oh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치

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abstract = "전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치",

author = "Oh, {Chil Hwan}",

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month = jun,

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language = "English",

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TY - PAT

T1 - Extraction method for 3-dimensional spacial data with electron microscope and apparatus thereof

AU - Oh, Chil Hwan

PY - 2004/6/21

Y1 - 2004/6/21

N2 - 전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치

AB - 전자현미경을 사용해서 물체의 3차원 공간 데이터를추출하는 방법 및 그 장치

M3 - Patent

M1 - 10-0438212

ER -