Measurement of B→Ds(*)Kπ branching fractions

J. Wiechczynski, T. Lesiak, H. Aihara, K. Arinstein, V. Aulchenko, A. M. Bakich, V. Balagura, E. Barberio, A. Bay, K. Belous, V. Bhardwaj, A. Bondar, A. Bozek, M. Bračko, J. Brodzicka, T. E. Browder, Y. Chao, A. Chen, B. G. Cheon, R. ChistovI. S. Cho, Y. Choi, J. Dalseno, M. Dash, A. Drutskoy, S. Eidelman, D. Epifanov, N. Gabyshev, A. Garmash, P. Goldenzweig, H. Ha, B. Y. Han, Y. Hoshi, W. S. Hou, H. J. Hyun, T. Iijima, K. Inami, A. Ishikawa, M. Iwasaki, D. H. Kah, J. H. Kang, P. Kapusta, H. Kawai, T. Kawasaki, H. Kichimi, H. O. Kim, J. H. Kim, Y. I. Kim, Y. J. Kim, B. R. Ko, P. Križan, P. Krokovny, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, S. H. Kyeong, S. E. Lee, C. Liu, Y. Liu, D. Liventsev, R. Louvot, A. Matyja, S. McOnie, T. Medvedeva, H. Miyata, Y. Miyazaki, T. Mori, Y. Nagasaka, E. Nakano, M. Nakao, H. Nakazawa, K. Nishimura, O. Nitoh, S. Ogawa, T. Ohshima, S. Okuno, H. Ozaki, P. Pakhlov, G. Pakhlova, H. Palka, C. W. Park, H. K. Park, K. S. Park, R. Pestotnik, L. E. Piilonen, A. Poluektov, H. Sahoo, Y. Sakai, O. Schneider, C. Schwanda, A. Sekiya, K. Senyo, M. E. Sevior, M. Shapkin, V. Shebalin, J. G. Shiu, B. Shwartz, J. B. Singh, A. Sokolov, S. Stanič, M. Starič, J. Stypula, T. Sumiyoshi, G. N. Taylor, Y. Teramoto, I. Tikhomirov, S. Uehara, K. Ueno, T. Uglov, Y. Unno, S. Uno, Y. Usov, G. Varner, K. E. Varvell, K. Vervink, A. Vinokurova, C. H. Wang, M. Z. Wang, P. Wang, Y. Watanabe, E. Won, B. D. Yabsley, Y. Yamashita, V. Zhilich, V. Zhulanov, T. Zivko, A. Zupanc, N. Zwahlen, O. ZyukovaShow 108 moreShow less