Measurement of the branching fraction of B+ →τ+ντ decays with the semileptonic tagging method

B. Kronenbitter, M. Heck, P. Goldenzweig, T. Kuhr, A. Abdesselam, I. Adachi, H. Aihara, S. Al Said, K. Arinstein, D. M. Asner, T. Aushev, R. Ayad, T. Aziz, A. M. Bakich, V. Bansal, E. Barberio, V. Bhardwaj, A. Bondar, G. Bonvicini, A. BozekM. Bračko, T. E. Browder, D. Červenkov, V. Chekelian, A. Chen, B. G. Cheon, K. Chilikin, R. Chistov, K. Cho, V. Chobanova, Y. Choi, D. Cinabro, J. Dalseno, M. Danilov, J. Dingfelder, Z. DoleŽal, Z. Drásal, A. Drutskoy, D. Dutta, S. Eidelman, D. Epifanov, H. Farhat, J. E. Fast, T. Ferber, O. Frost, B. G. Fulsom, V. Gaur, N. Gabyshev, A. Garmash, D. Getzkow, R. Gillard, R. Glattauer, B. Golob, J. Grygier, K. Hayasaka, H. Hayashii, X. H. He, M. Heider, A. Heller, T. Horiguchi, M. Huschle, T. Iijima, K. Inami, A. Ishikawa, R. Itoh, Y. Iwasaki, I. Jaegle, K. K. Joo, T. Julius, K. H. Kang, E. Kato, D. Y. Kim, H. J. Kim, J. B. Kim, J. H. Kim, K. T. Kim, M. J. Kim, S. H. Kim, Y. J. Kim, K. Kinoshita, B. R. Ko, P. Kodyš, P. KriŽan, P. Krokovny, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, J. S. Lange, D. H. Lee, I. S. Lee, P. Lewis, L. Li Gioi, J. Libby, D. Liventsev, P. Lukin, D. Matvienko, H. Miyata, R. Mizuk, G. B. Mohanty, S. Mohanty, A. Moll, H. K. Moon, R. Mussa, E. Nakano, M. Nakao, T. Nanut, Z. Natkaniec, M. Nayak, N. K. Nisar, S. Nishida, S. Okuno, S. L. Olsen, W. Ostrowicz, C. Oswald, P. Pakhlov, G. Pakhlova, H. Park, T. K. Pedlar, L. Pesántez, R. Pestotnik, M. Petrič, L. E. Piilonen, C. Pulvermacher, E. RibeŽl, M. Ritter, A. Rostomyan, S. Ryu, Y. Sakai, L. Santelj, T. Sanuki, Y. Sato, V. Savinov, O. Schneider, G. Schnell, M. Schram, C. Schwanda, A. J. Schwartz, K. Senyo, O. Seon, M. E. Sevior, V. Shebalin, T. A. Shibata, J. G. Shiu, B. Shwartz, A. Sibidanov, F. Simon, Y. S. Sohn, A. Sokolov, E. Solovieva, S. Stanič, M. Starič, M. Steder, T. Sumiyoshi, U. Tamponi, Y. Teramoto, K. Trabelsi, M. Uchida, S. Uehara, T. Uglov, Y. Unno, S. Uno, P. Urquijo, Y. Usov, C. Van Hulse, P. Vanhoefer, G. Varner, A. Vinokurova, A. Vossen, M. N. Wagner, C. H. Wang, M. Z. Wang, P. Wang, M. Watanabe, Y. Watanabe, K. M. Williams, E. Won, H. Yamamoto, S. Yashchenko, Y. Yook, Z. P. Zhang, V. Zhilich, V. Zhulanov, M. Ziegler, A. ZupancShow 163 moreShow less