Measurement of the branching fraction of decay at Belle

S. X. Li, L. K. Li, C. P. Shen, I. Adachi, H. Aihara, S. Al Said, D. M. Asner, T. Aushev, P. Behera, K. Belous, J. Bennett, M. Bessner, V. Bhardwaj, B. Bhuyan, T. Bilka, J. Biswal, A. Bobrov, D. Bodrov, J. Borah, A. BozekM. Bračko, P. Branchini, T. E. Browder, A. Budano, M. Campajola, D. Červenkov, M. C. Chang, P. Chang, A. Chen, B. G. Cheon, K. Chilikin, H. E. Cho, K. Cho, S. J. Cho, S. K. Choi, Y. Choi, S. Choudhury, D. Cinabro, S. Cunliffe, S. Das, G. De Nardo, G. De Pietro, R. Dhamija, F. Di Capua, Z. Doležal, T. V. Dong, D. Epifanov, T. Ferber, B. G. Fulsom, R. Garg, V. Gaur, N. Gabyshev, A. Giri, P. Goldenzweig, B. Golob, E. Graziani, T. Gu, Y. Guan, K. Gudkova, C. Hadjivasiliou, S. Halder, O. Hartbrich, K. Hayasaka, H. Hayashii, W. S. Hou, C. L. Hsu, T. Iijima, K. Inami, A. Ishikawa, R. Itoh, M. Iwasaki, Y. Iwasaki, W. W. Jacobs, S. Jia, Y. Jin, K. K. Joo, A. B. Kaliyar, K. H. Kang, Y. Kato, H. Kichimi, C. H. Kim, D. Y. Kim, K. H. Kim, K. T. Kim, Y. K. Kim, K. Kinoshita, P. Kodyš, T. Konno, A. Korobov, S. Korpar, E. Kovalenko, P. Križan, R. Kroeger, P. Krokovny, R. Kumar, K. Kumara, Y. J. Kwon, Y. T. Lai, J. S. Lange, M. Laurenza, S. C. Lee, J. Li, Y. B. Li, L. Li Gioi, J. Libby, K. Lieret, D. Liventsev, C. MacQueen, M. Masuda, T. Matsuda, M. Merola, K. Miyabayashi, R. Mizuk, R. Mussa, M. Nakao, A. Natochii, L. Nayak, M. Nayak, M. Niiyama, N. K. Nisar, S. Nishida, S. Ogawa, H. Ono, P. Oskin, P. Pakhlov, G. Pakhlova, T. Pang, H. Park, S. H. Park, S. Patra, S. Paul, T. K. Pedlar, R. Pestotnik, L. E. Piilonen, T. Podobnik, V. Popov, E. Prencipe, M. T. Prim, M. Röhrken, A. Rostomyan, N. Rout, G. Russo, D. Sahoo, S. Sandilya, L. Santelj, T. Sanuki, V. Savinov, G. Schnell, C. Schwanda, Y. Seino, K. Senyo, M. E. Sevior, M. Shapkin, C. Sharma, J. G. Shiu, F. Simon, A. Sokolov, E. Solovieva, M. Starič, Z. S. Stottler, J. F. Strube, M. Sumihama, T. Sumiyoshi, W. Sutcliffe, M. Takizawa, U. Tamponi, K. Tanida, F. Tenchini, M. Uchida, T. Uglov, Y. Unno, K. Uno, S. Uno, P. Urquijo, Y. Usov, S. E. Vahsen, R. Van Tonder, G. Varner, A. Vinokurova, E. Waheed, C. H. Wang, E. Wang, M. Z. Wang, P. Wang, E. Won, B. D. Yabsley, W. Yan, S. B. Yang, H. Ye, J. Yelton, J. H. Yin, Y. Yusa, Z. P. Zhang, V. Zhilich, V. ZhukovaShow 175 moreShow less