Measurement of the CP violation parameters in B0→π⁺π^- decays

J. Dalseno, K. Prothmann, C. Kiesling, I. Adachi, H. Aihara, K. Arinstein, D. M. Asner, V. Aulchenko, T. Aushev, A. M. Bakich, A. Bala, A. Bay, P. Behera, V. Bhardwaj, B. Bhuyan, A. Bondar, G. Bonvicini, A. Bozek, M. Bračko, T. E. BrowderV. Chekelian, A. Chen, P. Chen, B. G. Cheon, K. Chilikin, R. Chistov, K. Cho, V. Chobanova, S. K. Choi, Y. Choi, D. Cinabro, M. Danilov, Z. Doležal, Z. Drásal, A. Drutskoy, D. Dutta, K. Dutta, S. Eidelman, H. Farhat, J. E. Fast, M. Feindt, T. Ferber, A. Frey, V. Gaur, S. Ganguly, R. Gillard, Y. M. Goh, B. Golob, J. Haba, T. Hara, K. Hayasaka, H. Hayashii, T. Higuchi, Y. Hoshi, W. S. Hou, H. J. Hyun, T. Iijima, A. Ishikawa, R. Itoh, Y. Iwasaki, T. Julius, D. H. Kah, E. Kato, H. Kawai, T. Kawasaki, D. Y. Kim, H. J. Kim, J. B. Kim, J. H. Kim, K. T. Kim, Y. J. Kim, K. Kinoshita, J. Klucar, B. R. Ko, P. Kodyš, S. Korpar, P. Križan, P. Krokovny, B. Kronenbitter, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, S. H. Lee, J. Li, Y. Li, L. Li Gioi, J. Libby, C. Liu, D. Liventsev, P. Lukin, D. Matvienko, K. Miyabayashi, H. Miyata, R. Mizuk, G. B. Mohanty, A. Moll, T. Mori, H. G. Moser, N. Muramatsu, R. Mussa, Y. Nagasaka, M. Nakao, M. Nayak, E. Nedelkovska, C. Ng, C. Niebuhr, N. K. Nisar, S. Nishida, O. Nitoh, S. Ogawa, S. Okuno, S. L. Olsen, P. Pakhlov, G. Pakhlova, C. W. Park, H. Park, H. K. Park, T. K. Pedlar, R. Pestotnik, M. Petrič, L. E. Piilonen, M. Ritter, M. Röhrken, A. Rostomyan, S. Ryu, H. Sahoo, T. Saito, Y. Sakai, S. Sandilya, L. Santelj, T. Sanuki, V. Savinov, O. Schneider, G. Schnell, C. Schwanda, A. J. Schwartz, D. Semmler, K. Senyo, O. Seon, M. E. Sevior, M. Shapkin, C. P. Shen, T. A. Shibata, J. G. Shiu, B. Shwartz, A. Sibidanov, F. Simon, Y. S. Sohn, E. Solovieva, S. Stanič, M. Starič, M. Steder, M. Sumihama, K. Sumisawa, T. Sumiyoshi, U. Tamponi, G. Tatishvili, Y. Teramoto, K. Trabelsi, T. Tsuboyama, M. Uchida, S. Uehara, T. Uglov, Y. Unno, S. Uno, P. Urquijo, Y. Ushiroda, S. E. Vahsen, C. Van Hulse, P. Vanhoefer, G. Varner, V. Vorobyev, M. N. Wagner, C. H. Wang, P. Wang, X. L. Wang, M. Watanabe, Y. Watanabe, K. M. Williams, E. Won, B. D. Yabsley, H. Yamamoto, Y. Yamashita, S. Yashchenko, Y. Yook, C. Z. Yuan, Y. Yusa, Z. P. Zhang, V. Zhilich, V. Zhulanov, A. ZupancShow 170 moreShow less