Production and the quality control for the CMS endcap RPCs

Z. Aftab, I. Ahmed, S. H. Ahn, S. Akimenko, P. S. Anan, M. I. Asghar, S. Y. Bahk, A. Ball, Y. Ban, J. Cai, J. P. Chatelain, A. Colaleo, I. Crotty, Y. C. Ge, B. Hong, S. J. Hong, H. Hoorani, G. Iaselli, M. Ito, S. JonalegeddaM. S. Khan, T. I. Kang, B. I. Kim, H. C. Kim, J. H. Kim, T. J. Kim, Y. J. Kim, Y. U. Kim, D. G. Koo, R. Kuo, K. B. Lee, K. S. Lee, S. J. Lee, H. Liu, F. Loddo, M. Maggi, M. Marcisosky, A. Marinov, S. K. Nam, S. Park, S. J. Qian, J. T. Rhee, M. S. Ryu, A. Sharma, K. S. Sim, T. Solaija, C. J. Stephen, W. Van Doninck, Q. J. Wang, W. Whitaker, Z. H. Xue, Y. L. Ye, J. YingShow 33 moreShow less